SS-110及SS-120是美国Apogee公司生产的一款新型小巧光谱测量仪，配套监测软件，可以直接测量不同辐射源（如：植被或人造光源）的辐射通量密度，光量子通量密度，天然和合成表面和材料（如：植物叶片和冠层）的反射辐射或透射测量等。
典型应用
通过软件处理，可以直接测量不同辐射源（如：植被或人造光源）的辐射通量密度，光量子通量密度，天然和合成表面和材料（如：植物叶片和冠层）的反射辐射或透射测量等。
技术参数
型 号
SS-110
SS-120
光谱范围
340-820nm
635-1100nm
光谱测量间隔
1.0nm
光谱分辨率
3.0nm
光谱精度
± 0.5 nm
光谱重复性
± 0.2 nm
模拟/数字转换
14bit
信号噪声比
1500:1
杂 散 光
≤ 0.25 % at 590 nm
≤ 0.25 % at 850 nm
噪 音
≤3 counts
积分时间范围
10 ms～10 s
线 性
＜1%或0.5%
测量灵敏度
＞10% (波长大于380nm)
＞10% (波长小于1030nm)
测量重复性
＜1%（波长大于400nm）
＜1%（波长小于1020nm）
方向（余弦）响应
±5%（在天顶角75°时）
视 角
180°（朝上安装的传感器）
25°或150°（朝下安装的传感器）
温度响应
-0.1±0.1%/℃
辐照度校准不确定度
±5%
电 流
190mA (USB测量)
功 耗
1W（USB测量）
通 讯
USB端口
软 件
Apogee配套软件
(Windows， XP及以后版本；Mac操作系统，10.9及以后版本)
工作环境
-20～+70℃; 0～100%RH
重 量
300g
尺 寸
89.3mm(H), 50.8mm(W), 38.1mm (L)
京公网安备 11010802025807号
